我們為以下所有標準提供測試，審核和認證服務。 我們在所有業務中都很專業，經驗豐富。
TS EN 61747-1液晶和固態顯示器件 - 第1部分：一般特性
TS EN 61747-2-2液晶顯示電路 - 第2-2部分：矩陣彩色LCD模塊 - 空白詳細規範標準
TS EN 61747-4-1液晶顯示電路 - 第4-1部分：矩陣彩色LCD模塊 - 基本聲明值和規格
TS EN 61965陰極射線管的機械安全性
TS EN 113001空的詳細規格，相機管
TS EN 61747-5-2液晶顯示器件 - 第5-2部分：環境要求，耐久性和機械測試方法 - 有源矩陣彩色液晶顯示器模塊的目視檢查
TS EN 61747-6-2液晶顯示裝置 - 第6-2部分：液晶顯示模塊的測量方法 - 反射型
TS EN 61988-1等離子顯示器 - 第1節：術語和字母符號
TS EN 61747-6-3液晶和固態指示器電路 - 第6-3部分：液晶模塊的測量方法 - 有源矩陣液晶顯示模塊的手動移動測量
TS EN 61987-10 / AC工業過程測量和控制 - 過程硬件目錄中的數據結構和元素 - 第10部分：電子數據交換（lop）工業過程測量和控制規範一覽表 - 基本規則
TS EN 61988-2-4等離子屏幕 - 第2-3部分：測量方法 - 圖像質量：反射
TS EN 62595-1-2 LCD背光單元 - 部件1-2：Terminolji和字母符號
61988-2-1：2012等離子屏幕 - 第2-1部分：測量方法 - 光學
TS EN 61747-4液晶顯示電路 - 第4章：液晶顯示器和電池 - 必要的特性和評估
TS EN 61747-30-1液晶顯示裝置 - 第30-1部分：液晶顯示模塊的測量方法 - 透射型
TS EN 62595-2 LCD反饋燈 - LED反饋電光測量方法
62629-22-1：圖像元素2013 3D - 部分22-1：自動立體顯示器的測量方法 - 光學
TS EN 61747-2-1液晶顯示器件 - 第2-1部分：無源矩陣單色LCD模塊 - 空白詳細信息
TS EN 62595-1-1 LCD背光單元 - 章節1-1：一般功能
TS EN 62341-5-3有機發光二極管屏幕 - 第5部分 - 3：壽命和圖像保留的測試方法
TS EN 60286-3自動加工部件包裝3：在連續移動的帶材上放置在表面上的元件的包裝
62629-1-2圖像元素 - 第3-1部分 - 術語和字母符號
TS EN 61747-10-1液晶顯示器件 - 第10-1部分：環境要求，耐久性和機械試驗方法 - 機械
TS EN 60286-3 / AC自動加工零件3的組件包裝：在連續移動的條帶上放置在表面上的元件的包裝
tst EN 62595-1-2 LCD背光單元 - 第1-2部分：溫度和字母符號
TS EN 50360 / tst A1產品標準，用於演示移動電話是否適合電磁場的基本限制（300 mhz-3 ghz）
tst EN 50065-4-6 3 khz - 在頻率範圍為148,5 khz的低壓電氣設備中進行登錄 - 部件4-6：低壓去耦濾波器 - 角度耦合器
tst ISO / IEC 8825-2信息技術 - Asn.1加密規則：與打包加密規則相關的功能（包）
tst EN 50065-4-4 3 khz - 在頻率範圍為148,5 khz的低壓電氣設備中進行登錄 - 部件4-4：低壓去耦濾波器 - 阻抗濾波器
tst EN 12016電磁兼容性 - 電梯，自動扶梯和輸送機的產品系列標準 - 抗擾度
TS EN 50625-2-2廢棄電氣和電子設備的收集，處理和處理要求 - 第2-2部分：廢棄電氣和電子設備的處理要求，包括CRT和平板顯示器
tst EN 50625-2-2廢棄電氣和電子設備的收集，處理和處理要求 - 第2-2部分：廢棄電氣和電子設備的處理要求，包括CRT和平板顯示器
TS EN 62341-5-3有機發光二極管屏幕 - 第5部分 - 3：壽命和圖像保留的測試方法
TS EN 50528低壓安裝或附近使用的絕緣手套
TS EN 61747-5-3液晶顯示器件 - 第5-3部分：環境要求，耐久性和機械測試方法 - 玻璃強度和可靠性
TS EN 61747-1 / A1液晶和固態顯示器件 - 第1部分：一般特性
TS EN 61747-3液晶顯示元件 - 第3部分：液晶顯示器（LCD）電池 - 零件特徵
TS EN 61967-5集成電路 - 150 khz - 1 ghz電磁輻射的測量 - 第5部分：接觸傳輸的測量 - 台式法拉第籠法
TS EN 61967-6集成電路 - 150 khz - 1 ghz電磁輻射的測量 - 第6部分：接觸傳輸的測量 - 磁探針法
TS EN 61967-4 / A1集成電路-150 kHz至1 ghz電磁發射測量 - 第4部分：發射發射的測量-1 / 150直接耦合方法
TS EN 61967-6 / A1集成電路 - 150 khz - 1 ghz電磁輻射的測量 - 第6部分：接觸傳輸的測量 - 磁探針法
TS EN 62090使用條形碼和二維符號的電子元件的產品包裝標籤
TS EN 62132-5集成電路 - 頻率範圍為150 khz至1 gHz的電磁抗擾度測量 - 第5部分：測試台的法拉第籠方法
TS EN 62132-3集成電路 - 頻率範圍為150 khz至1 gHz的電磁抗擾度測量 - 第3部分：質量電流注入法
TS EN 62132-4集成電路 - 頻率範圍為150 khz至1 gHz的電磁抗擾度測量 - 第4部分：干擾射頻功率的直接方法
TS EN 62132-2：2011集成電路 - 電磁抗擾度測量 - 第2部分：輻照抗擾度測量 - Tem電池和寬帶電池方法
TS EN 62258-5半導體模塑產品 - 第5部分：電氣模擬信息規則
TS EN 62258-6半導體成型產品 - 第6部分：熱模擬信息指南
TS EN 62417半導體器件 - 金屬氧化物半導體場效應晶體管（mosfet）的移動離子實驗
TS EN 62433-2仿真建模 - 第2部分：用於emi行為仿真的集成電路模型 - 通過傳輸進行的傳輸建模（icce-Ce）
TS EN 165000-1薄膜和混合集成電路 - 第1部分：一般特性 - 能力批准程序
TS EN 165000-2薄膜和混合集成電路 - 部分2：內部目視檢查和特殊測試
TS EN 165000-3薄膜和混合集成電路 - 第3部分：薄膜和混合集成電路製造商的自檢清單和報告
TS EN 165000-4薄膜和混合集成電路 - 第4部分：客戶信息，產品評估等級計劃和空白詳細規範
TS EN 165000-5薄膜和混合集成電路 - 第5部分：質量審批流程
TS EN 190000一般功能：單片集成電路
TS EN 190100器件特性：數字單片集成電路
TS EN 190101系列特性：數字集成ttl電路，54，64，74，84系列
TS EN 190102系列特性：Ttl肖特基數字集成電路，54，64，74，84s系列
TS EN 190103系列特性：數字集成ttl低功耗肖特基電路，54ls，64ls，74ls，84ls系列
TS EN 190106系列特性：Ttl先進的低功耗肖特基數字集成電路，54als和74als系列
TS EN 190107系列特性：Ttl快速數字集成電路，54f和74f系列
TS EN 190108系列特性：Ttl高級肖特基數字集成電路，54as和74as系列
TS EN 190109系列特性：數字集成hc mos電路，hc / hct / hcu系列
TS EN 190110空的詳細規範：數字微處理器集成電路
TS EN 190116系列特性：Ac mos數字集成電路