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Normes relatives aux éléments piézoélectriques et diélectriques

Composants piézoélectriques et diélectriquesn toutes les procédures spécifiées dans la norme en appliquant toutes les méthodes nécessaires pour effectuer le processus de certification par des tests.

 

TS EN 168101 Spécification particulière - unités à cristal de quartz (acceptation de la qualification)

TS EN 168201 Spécification particulière - unités à cristal de quartz (homologation de qualité)

TS EN 169201 Spécification particulière - Oscillateurs commandés par quartz (approbation de la qualité)

TS EN 60444-1 Mesure des paramètres d'unité de cristal de quartz dans un réseau par technique à phase zéro - Partie 1

TS EN 60368-2-2 Tamis piézoélectriques - Partie 2: Manuel d'utilisation pour les tamis piézoélectriques - Partie 2: Tamis en céramique piézoélectrique (IEC60368-2-2: 1999)

TS EN 170100 Part Feature standard - Résonateurs diélectriques du type à guides d'ondes

TS EN 170101 Cavity - Résonateurs diélectriques avec guides d’ondes - Approbation de la capacité

TS EN 60368-4-1 Filtres piézoélectriques avec évaluation de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière-témoin - Approbation de la capacité

TS EN 60679-5 Oscillateurs à quartz contrôlés - Contrôle de la qualité fabriqué-Partie 5: Approbation de la qualité de la pièce

TS EN 60679-5-1 Oscillateurs à quartz contrôlés - Contrôle de la qualité fabriqué-Partie 5: Fonction de détail vide - Homologation de la qualité

TS EN 60368-4 Section des filtres piézoélectriques avec évaluation de la qualité 4: Caractéristique de la section - Approbation de la capacité

TS EN 60368-4-1 Filtres piézoélectriques avec évaluation de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière-témoin - Approbation de la capacité

TS EN 60444-7 Mesure des paramètres des unités à quartz - Partie 7: Mesure du fonctionnement des unités à quartz et des réductions de fréquence

TS EN 60444-8 Mesure des paramètres des unités à cristaux de quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les unités à cristaux de quartz montés en surface

TS EN 60122-1 Unités à cristaux de quartz d’une qualité évaluée - partie 1: norme de spécification générale

TS EN 60444-1 / A1 Mesure de paramètres d'unités à quartz dans un réseau avec technique à phase zéro - Partie 1

TS EN 168201 Quartz (Approbation de la qualité) - Spécification vierge

TS EN 60444-1 / A1 Mesure de paramètres d'unités de quartz dans un circuit pi avec technique de phase nulle Section 1: méthode de base pour mesurer la résistance à la résonance et la fréquence de résonance d'unités de quartz dans un circuit pi avec la technique zéro phase

TS EN 60444-9 Mesure des paramètres des unités à cristaux de quartz - Partie 9: Mesure des fausses résonances des unités à cristaux piézoélectriques

TS EN 60684-2 Gaine isolante flexible - Partie 2: Méthodes d'essai

TS EN 62604-2 Paires d'onde acoustique de surface (SAW) et d'onde acoustique empilée (BAW)

TS EN 60122-3 Unités à cristal de quartz de qualité supérieure - Partie 3: Dimensions principales standard et raccordements des pieds

TS EN 60368-3 Filtres piézoélectriques avec évaluation de la qualité - Partie 3: Dimensions principales et connexions de jambe standard

TS EN 61837-1 Dispositifs électriques recouverts de surface pour le contrôle et la sélection de fréquence - Projets de tirage et connexions avant - Partie 1: Matrices de revêtement en plastique

TS EN 62575-2 Evaluation de la qualité des filtres à ondes acoustiques radioélectriques (BAW) - Partie 2: Manuel de l'utilisateur

TS EN 60679-3 Oscillateurs à cristaux liquides - Garantie de qualité - Partie 3: Contours standard et connexions de jambe

TS EN 60444-6 Mesure des paramètres de l’unité à cristal de quartz - Section 6: Mesure de la dépendance du niveau de l’entraînement (SSB)

TS EN 61837-2 / A1 Éléments piézoélectriques à montage en surface pour le contrôle et la sélection de fréquence - Contours standard et raccordements terminaux

TS EN 62761 Principes de base pour la mesure de la non-linéarité d'éléments à ondes acoustiques de surface (SAW) et à ondes acoustiques volumétriques (BAW) à fréquence radio (RF)

TS EN 62575-1 Filtres à onde acoustique collective (BAW) à radiofréquence évaluée par qualité - Partie 1: Norme générale

TS EN 62604-1 Onde duplex de qualité évaluée à onde acoustique de surface (SAW) et à onde acoustique collective (BAW) - Partie 1: Norme générale

TS EN 60862-1 Filtres à ondes acoustiques de surface qualifiés: Partie 1: Norme de spécification générale

TS EN 61837-3 Dispositifs pizoélectroniques en applique pour le contrôle et la sélection de fréquence - Cadres standard et connexions terminales en cuivre - Partie 3: Couches métalliques

TS EN 60758 Cristal de quartz synthétique - Spécifications et mode d'emploi

TS EN 62276 Plaques à cristal unique pour applications à ondes acoustiques de surface - Spécifications et méthodes de mesure

TS EN 61240 Éléments piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des éléments montés en surface (CMS) pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Règles générales

TS EN 50324-1 Propriétés piézoélectriques des matériaux et composants céramiques - Partie 1: Termes et définitions

TS EN 50324-2 Propriétés piézoélectriques des matériaux et composants céramiques - Partie 2: Méthodes de mesure basse consommation

TS EN 50324-3 Propriétés piézoélectriques des matériaux et composants céramiques - Partie 3: Méthodes de mesure - Haute puissance

TS EN 61967-5 Circuits intégrés - 150 khz - Mesurage des émissions électromagnétiques 1 ghz - Partie 5: Mesurage des transmissions par contact - Méthode de la cage de Faraday au banc

TS EN 61967-6 Circuits intégrés - 150 khz - Mesurage des émissions électromagnétiques 1 ghz - Partie 6: Mesurage des transmissions par contact - Méthode de la sonde magnétique

TS EN 61967-4 / A1 Circuits intégrés-150 kHz à 1 mesure de l'émission électromagnétique en ghz-Partie 4: Mesure de la méthode de couplage direct émission 1 / 150

TS EN 61967-6 / A1 Circuits intégrés - 150 khz - Mesurage des émissions électromagnétiques 1 ghz - Partie 6: Mesurage des transmissions par contact - Méthode de la sonde magnétique

TS FR 62090 Etiquettes d'emballage pour composants électroniques utilisant des codes à barres et des symboles bidimensionnels

TS EN 62132-5 Circuits intégrés - Mesures d'immunité électromagnétique pour la gamme de fréquences 150 khz à 1 gHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday pour la table de test

TS EN 62132-3 Circuits intégrés - Mesures d'immunité électromagnétique pour la gamme de fréquences 150 khz à 1 gHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant de masse

TS EN 62132-4 Circuits intégrés - Mesures d'immunité électromagnétique pour la gamme de fréquences 150 khz à 1 gHz - Partie 4: Méthode directe d'intervention de puissance RF

TS EN 62132-2: Circuits intégrés 2011 - Mesures d'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesures d'immunité irradiées - Méthode des cellules tem et des cellules tem à large bande

TS EN 62258-5 Produits de moulage de semi-conducteurs - Partie 5: Règles d'information sur la simulation électrique

TS EN 62258-6 Produits de moulage de semi-conducteurs - Partie 6: Lignes directrices pour des informations sur la simulation thermique

TS EN 62417 Dispositifs à semi-conducteurs - Expériences sur les ions mobiles pour les transistors à effet de champ à semi-conducteurs en oxyde métallique (MOSFET)

TS EN 62433-2 Modélisation émotionnelle - Partie 2: Modèles de circuit intégré pour la simulation du comportement emi - Modélisation des transmissions par transmission (icce-Ce)

TS EN 165000-1 Circuits intégrés hybrides et à film - Partie 1: Caractéristiques générales - Processus d'approbation de capacité

TS EN 165000-2 Circuits intégrés hybrides et à film - partie 2: Inspection visuelle interne et tests spéciaux

TS EN 165000-3 Circuits intégrés hybrides et à film - Partie 3: Liste de contrôle et rapport d'auto-vérification pour les fabricants de circuits intégrés hybrides et à film

TS EN 165000-4 Circuits intégrés hybrides et à film - Partie 4: Information du client, plans de niveau d'évaluation du produit et spécification particulière-témoin

TS EN 165000-5 Circuits intégrés hybrides et à film - Partie 5: Processus d'approbation de la qualité

TS EN 190000 Caractéristiques générales: Circuits intégrés monolithiques

TS EN 190100 Caractéristiques de la pièce: Circuits intégrés monolithiques numériques

Caractéristiques de la famille TS EN 190101: Circuits numériques intégrés, séries 54, 64, 74, 84

Caractéristiques de la famille TS EN 190102: circuits intégrés numériques Ttl schottky, séries 54, 64, 74, 84

TS EN 190103 Caractéristiques de la famille: Circuits numériques intégrés de faible puissance, 54ls, 64ls, 74ls, 84ls

Caractéristiques de la famille TS EN 190106: Circuits intégrés numériques schottky avancés Ttl, séries 54als et 74als

Caractéristiques de la famille TS EN 190107: circuits intégrés numériques rapides Ttl, séries 54f et 74f

Caractéristiques de la famille TS EN 190108: Circuits intégrés numériques schottky avancés Ttl, séries 54as et 74as

TS EN 190109 Caractéristiques de la famille: Circuits intégrés numériques hc mos, série hc / hct / hcu

TS EN 190110 Spécification particulière vide: Circuits intégrés à microprocesseur numérique

Caractéristiques de la famille TS EN 190116: Circuits intégrés numériques Ac mos