Piezoelektrische und dielektrische Komponentenn Alle in der Norm festgelegten Verfahren, indem alle erforderlichen Methoden angewendet werden, um den Zertifizierungsprozess durch Testen durchzuführen.
TS EN 168101 Blank Bauartspezifikation: Quarzglaseinheiten (Qualifikationsabnahme)
TS EN 168201 Blank Bauartspezifikation: Quarzglas-Einheiten (Qualitätszulassung)
TS EN 169201 Blank Bauartspezifikation: Quarzgesteuerte Oszillatoren (Qualitätszulassung)
TS EN 60444-1 Messung der Parameter von Quarzeinheiten in einem Netzwerk mit der Nullphasentechnik - Teil 1
TS DE 60368-2-2 Piezoelektrische Siebe - Teil 2: Betriebsanleitung für Piezoelektrische Siebe - Teil 2: Piezoelektrische Keramiksiebe (IEC60368-2-2: 1999)
TS EN 170100 Teile sind standardmäßig mit dielektrischen Resonatoren vom Wellenleitertyp ausgestattet
TS EN 170101 Hohlraum - Dielektrische Resonatoren mit Wellenleitern - Zulassung
TS DE 60368-4-1 Piezofilter mit Qualitätsbewertung - Teil 4-1: Blanko-Bauartspezifikation - Fähigkeitsgenehmigung
TS DE 60679-5 Quarzgesteuerte Oszillatoren - Qualitätskontrolle aus Teil 5: Teileigenschaft - Qualitätsgenehmigung
TS DE 60679-5-1 Quarz-Oszillatoren -Qualitätskontrolle aus Teil 5: Leeres Detailmerkmal -Qualitätsgenehmigung
TS EN 60368-4 Qualitätsgeprüfte piezoelektrische Filter Abschnitt 4: Abschnitt Merkmal - Fähigkeitsgenehmigung
TS DE 60368-4-1 Piezofilter mit Qualitätsbewertung - Teil 4-1: Blanko-Bauartspezifikation - Fähigkeitsgenehmigung
TS DE 60444-7 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung des Betriebs von Quarzkristalleinheiten und Frequenzreduzierungen
TS DE 60444-8 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
TS EN 60122-1 Qualitätsgeprüfte Quarzglaseinheiten - Teil 1: Allgemeine Spezifikation
TS DE 60444-1 / A1 Messung der Parameter von Quarzeinheiten in einem Netzwerk mit der Nullphasentechnik - Teil 1
TS EN 168201 Quarzglas-Einheiten (Qualitätszulassung) - Blank-Bauartspezifikation
TS DE 60444-1 / A1 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten in einem Pi-Schaltkreis mit der Nullphasentechnik Abschnitt 1: Grundlegende Methode zur Messung des Resonanzwiderstands und der Resonanzfrequenz von Quarzkristalleinheiten in einem Pi-Schaltkreis mit der Nullphasentechnik
TS DE 60444-9 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Fehlresonanzen von piezoelektrischen Kristalleinheiten
TS EN 60684-2 Flexible Isolierschlauch - Teil 2: Prüfverfahren
TS EN 62604-2 Oberflächenwellenpaare (SAW) und gestapelte akustische Wellenpaare (BAW)
TS EN 60122-3 Qualitätsbewertete Quarzglaseinheiten - Teil 3: Standardhauptabmessungen und Beinverbindungen
TS EN 60368-3 Piezoelektrische Filter mit Qualitätsbewertung - Teil 3: Standardhauptabmessungen und Beinverbindungen
TS EN 61837-1 Oberflächenbeschichtete elektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl - Standardzüge und Frontend-Anschlüsse - Teil 1: Kunststoffguss-Beschichtungswerkzeuge
TS DE 62575-2 Qualitätsbewertung von Hochfrequenz- (HF-) Schallwellenfiltern (BAW) - Teil 2: Benutzerhandbuch
TS EN 60679-3 Flüssigkristall-Oszillatoren - Qualitätsgesichert - Teil 3: Standardkonturen und Beinverbindungen
TS EN 60444-6 Messung der Parameter von Quarzeinheiten - Abschnitt 6: Messung der Abhängigkeit des Antriebspegels (ssb)
TS DE 61837-2 / A1 Oberflächenmontierte piezoelektrische Elemente zur Frequenzsteuerung und -auswahl - Standardkonturen und Anschlüsse an den Anschlussenden - Teil 2: Keramikgehäuse
TS EN 62761 Grundprinzipien für die Messung der Nichtlinearität von Oberflächenwellen- (SAW) und Volumenwellenelementen (BAW) mit Hochfrequenz (RF)
TS EN 62575-1 Qualitätsbewertete Hochfrequenzfilter (RF) für kollektive akustische Wellen (BAW) - Teil 1: Allgemeine Norm
TS EN 62604-1 Qualitätsbewertete Oberflächenwellen (SAW) und kollektive Schallwellen (BAW) Duplex - Teil 1: Allgemeine Norm
TS EN 60862-1 Qualifizierte Oberflächenwellenfilter: Teil 1: Allgemeine Spezifikation
TS DE 61837-3 Aufputz-pizoelektronische Geräte zur Frequenzregelung und -auswahl - Standardrahmen und Endkupferanschlüsse - Teil 3: Metallbeschichter
TS EN 60758 Synthetischer Quarz - Spezifikationen und Gebrauchsanweisungen
TS EN 62276 Einkristallplatten für Oberflächenwellenanwendungen - Spezifikation und Messverfahren
TS EN 61240 Piezoelektrische Elemente - Erstellung von Übersichtszeichnungen für SMD-Elemente zur Frequenzregelung und -auswahl - Allgemeine Regeln
TS EN 50324-1 Piezoelektrische Eigenschaften keramischer Werkstoffe und Bauteile - Teil 1: Begriffe und Definitionen
TS EN 50324-2 Piezoelektrische Eigenschaften von keramischen Werkstoffen und Bauteilen - Teil 2: Messverfahren niedriger Leistung
TS EN 50324-3 Piezoelektrische Eigenschaften von keramischen Werkstoffen und Bauteilen - Teil 3: Messverfahren - Hohe Leistung
TS EN 61967-5 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 5: Messung von Kontaktübertragungen - Bench Faraday-Cage-Methode
TS DE 61967-6 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 6: Messung von Kontaktübertragungen - Magnetsondenmethode
TS DE 61967-4 / A1 Integrierte Schaltkreise-150 kHz bis 1 ghz Messung der elektromagnetischen Emission-Teil 4: Messung der durchgelassenen Emission-1 / 150 Direktkopplungsmethode
TS DE 61967-6 / A1 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 6: Messung von Kontaktübertragungen - Magnetsondenmethode
TS EN 62090 Produktverpackungsetiketten für elektronische Bauteile mit Barcodes und zweidimensionalen Symbolen
TS DE 62132-5 Integrierte Schaltkreise - Elektromagnetische Immunitätsmessungen für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 5: Faradaysche Käfigmethode für den Prüftisch
TS DE 62132-3 Integrierte Schaltkreise - Elektromagnetische Immunitätsmessungen für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 3: Massenstrominjektionsverfahren
TS DE 62132-4 Integrierte Schaltkreise - Messungen der elektromagnetischen Störfestigkeit für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 4: Direkte Methode zur Intervention der HF-Leistung
TS EN 62132-2: 2011 Integrierte Schaltkreise - Messungen der elektromagnetischen Immunität - Teil 2: Messungen der bestrahlten Immunität - Verfahren für Tem-Zellen und Breitband-Tem-Zellen
TS EN 62258-5 Halbleiterformteile - Teil 5: Regeln für Informationen zur elektrischen Simulation
TS EN 62258-6 Halbleiterformteile - Teil 6: Richtlinien für Informationen zur thermischen Simulation
TS EN 62417 Semiconductor devices - Mobile Ionenexperimente für Metalloxidhalbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)
TS EN 62433-2 Emu ic-Modellierung - Teil 2: Integrierte Schaltungsmodelle für die Emu ic-Verhaltenssimulation - Modellierung von Übertragungen durch Übertragung (icce-Ce)
TS EN 165000-1 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 1: Allgemeine Merkmale - Zulassungsverfahren für Fähigkeiten
TS EN 165000-2 Integrierte Film- und Hybridschaltungen - Teil 2: Interne Sichtprüfung und spezielle Tests
TS DE 165000-3 Integrierte Film- und Hybridschaltungen - Teil 3: Checkliste und Bericht zur Selbstprüfung für Hersteller von integrierten Film- und Hybridschaltungen
TS EN 165000-4 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 4: Kundeninformationen, Produktbewertungspläne und leere Bauartspezifikation
TS EN 165000-5 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 5: Qualitätsgenehmigungsverfahren
TS EN 190000 Allgemeine Merkmale: Monolithische integrierte Schaltkreise
TS EN 190100 Teileigenschaften: Digitale monolithische integrierte Schaltkreise
Merkmale der 190101-Familie: Digitale integrierte TTL-Schaltkreise, 54, 64, 74, 84-Serie
Eigenschaften der 190102-Familie: TTL Schottky Digital Integrated Circuits, 54s, 64s, 74s, 84s-Serie
Merkmale der 190103-Familie: Digitale integrierte Schaltkreise mit geringem Stromverbrauch, 54ls, 64ls, 74ls, 84ls-Serie
Merkmale der 190106-Familie: Ttl Advanced Low-Power Schottky Digital Integrated Circuits, 54als und 74als-Serie
Merkmale der 190107-Produktfamilie: Schnelle digitale integrierte Schaltkreise der Serien 54f und 74f
Merkmale der 190108-Familie: Ttl Advanced Schottky Digital Integrated Circuits, 54as- und 74as-Serie
Merkmale der TS EN 190109-Familie: Integrierte digitale Hochleistungsschaltkreise, Hochleistungs / Hochleistungs / Hochleistungs-Serie
TS EN 190110 Leere Bauartspezifikation: Integrierte Schaltkreise mit digitalem Mikroprozessor
Merkmale der TS EN 190116-Familie: Weitere digitale integrierte Schaltkreise