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Piezoelektrische und dielektrische Elemente

Piezoelektrische und dielektrische Komponentenn Alle in der Norm festgelegten Verfahren, indem alle erforderlichen Methoden angewendet werden, um den Zertifizierungsprozess durch Testen durchzuführen.

 

TS EN 168101 Blank Bauartspezifikation: Quarzglaseinheiten (Qualifikationsabnahme)

TS EN 168201 Blank Bauartspezifikation: Quarzglas-Einheiten (Qualitätszulassung)

TS EN 169201 Blank Bauartspezifikation: Quarzgesteuerte Oszillatoren (Qualitätszulassung)

TS EN 60444-1 Messung der Parameter von Quarzeinheiten in einem Netzwerk mit der Nullphasentechnik - Teil 1

TS DE 60368-2-2 Piezoelektrische Siebe - Teil 2: Betriebsanleitung für Piezoelektrische Siebe - Teil 2: Piezoelektrische Keramiksiebe (IEC60368-2-2: 1999)

TS EN 170100 Teile sind standardmäßig mit dielektrischen Resonatoren vom Wellenleitertyp ausgestattet

TS EN 170101 Hohlraum - Dielektrische Resonatoren mit Wellenleitern - Zulassung

TS DE 60368-4-1 Piezofilter mit Qualitätsbewertung - Teil 4-1: Blanko-Bauartspezifikation - Fähigkeitsgenehmigung

TS DE 60679-5 Quarzgesteuerte Oszillatoren - Qualitätskontrolle aus Teil 5: Teileigenschaft - Qualitätsgenehmigung

TS DE 60679-5-1 Quarz-Oszillatoren -Qualitätskontrolle aus Teil 5: Leeres Detailmerkmal -Qualitätsgenehmigung

TS EN 60368-4 Qualitätsgeprüfte piezoelektrische Filter Abschnitt 4: Abschnitt Merkmal - Fähigkeitsgenehmigung

TS DE 60368-4-1 Piezofilter mit Qualitätsbewertung - Teil 4-1: Blanko-Bauartspezifikation - Fähigkeitsgenehmigung

TS DE 60444-7 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung des Betriebs von Quarzkristalleinheiten und Frequenzreduzierungen

TS DE 60444-8 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

TS EN 60122-1 Qualitätsgeprüfte Quarzglaseinheiten - Teil 1: Allgemeine Spezifikation

TS DE 60444-1 / A1 Messung der Parameter von Quarzeinheiten in einem Netzwerk mit der Nullphasentechnik - Teil 1

TS EN 168201 Quarzglas-Einheiten (Qualitätszulassung) - Blank-Bauartspezifikation

TS DE 60444-1 / A1 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten in einem Pi-Schaltkreis mit der Nullphasentechnik Abschnitt 1: Grundlegende Methode zur Messung des Resonanzwiderstands und der Resonanzfrequenz von Quarzkristalleinheiten in einem Pi-Schaltkreis mit der Nullphasentechnik

TS DE 60444-9 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Fehlresonanzen von piezoelektrischen Kristalleinheiten

TS EN 60684-2 Flexible Isolierschlauch - Teil 2: Prüfverfahren

TS EN 62604-2 Oberflächenwellenpaare (SAW) und gestapelte akustische Wellenpaare (BAW)

TS EN 60122-3 Qualitätsbewertete Quarzglaseinheiten - Teil 3: Standardhauptabmessungen und Beinverbindungen

TS EN 60368-3 Piezoelektrische Filter mit Qualitätsbewertung - Teil 3: Standardhauptabmessungen und Beinverbindungen

TS EN 61837-1 Oberflächenbeschichtete elektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl - Standardzüge und Frontend-Anschlüsse - Teil 1: Kunststoffguss-Beschichtungswerkzeuge

TS DE 62575-2 Qualitätsbewertung von Hochfrequenz- (HF-) Schallwellenfiltern (BAW) - Teil 2: Benutzerhandbuch

TS EN 60679-3 Flüssigkristall-Oszillatoren - Qualitätsgesichert - Teil 3: Standardkonturen und Beinverbindungen

TS EN 60444-6 Messung der Parameter von Quarzeinheiten - Abschnitt 6: Messung der Abhängigkeit des Antriebspegels (ssb)

TS DE 61837-2 / A1 Oberflächenmontierte piezoelektrische Elemente zur Frequenzsteuerung und -auswahl - Standardkonturen und Anschlüsse an den Anschlussenden - Teil 2: Keramikgehäuse

TS EN 62761 Grundprinzipien für die Messung der Nichtlinearität von Oberflächenwellen- (SAW) und Volumenwellenelementen (BAW) mit Hochfrequenz (RF)

TS EN 62575-1 Qualitätsbewertete Hochfrequenzfilter (RF) für kollektive akustische Wellen (BAW) - Teil 1: Allgemeine Norm

TS EN 62604-1 Qualitätsbewertete Oberflächenwellen (SAW) und kollektive Schallwellen (BAW) Duplex - Teil 1: Allgemeine Norm

TS EN 60862-1 Qualifizierte Oberflächenwellenfilter: Teil 1: Allgemeine Spezifikation

TS DE 61837-3 Aufputz-pizoelektronische Geräte zur Frequenzregelung und -auswahl - Standardrahmen und Endkupferanschlüsse - Teil 3: Metallbeschichter

TS EN 60758 Synthetischer Quarz - Spezifikationen und Gebrauchsanweisungen

TS EN 62276 Einkristallplatten für Oberflächenwellenanwendungen - Spezifikation und Messverfahren

TS EN 61240 Piezoelektrische Elemente - Erstellung von Übersichtszeichnungen für SMD-Elemente zur Frequenzregelung und -auswahl - Allgemeine Regeln

TS EN 50324-1 Piezoelektrische Eigenschaften keramischer Werkstoffe und Bauteile - Teil 1: Begriffe und Definitionen

TS EN 50324-2 Piezoelektrische Eigenschaften von keramischen Werkstoffen und Bauteilen - Teil 2: Messverfahren niedriger Leistung

TS EN 50324-3 Piezoelektrische Eigenschaften von keramischen Werkstoffen und Bauteilen - Teil 3: Messverfahren - Hohe Leistung

TS EN 61967-5 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 5: Messung von Kontaktübertragungen - Bench Faraday-Cage-Methode

TS DE 61967-6 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 6: Messung von Kontaktübertragungen - Magnetsondenmethode

TS DE 61967-4 / A1 Integrierte Schaltkreise-150 kHz bis 1 ghz Messung der elektromagnetischen Emission-Teil 4: Messung der durchgelassenen Emission-1 / 150 Direktkopplungsmethode

TS DE 61967-6 / A1 Integrierte Schaltkreise - 150 khz - Messung der elektromagnetischen 1 ghz-Emissionen - Teil 6: Messung von Kontaktübertragungen - Magnetsondenmethode

TS EN 62090 Produktverpackungsetiketten für elektronische Bauteile mit Barcodes und zweidimensionalen Symbolen

TS DE 62132-5 Integrierte Schaltkreise - Elektromagnetische Immunitätsmessungen für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 5: Faradaysche Käfigmethode für den Prüftisch

TS DE 62132-3 Integrierte Schaltkreise - Elektromagnetische Immunitätsmessungen für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 3: Massenstrominjektionsverfahren

TS DE 62132-4 Integrierte Schaltkreise - Messungen der elektromagnetischen Störfestigkeit für den Frequenzbereich 150 khz bis 1 gHz - Teil 4: Direkte Methode zur Intervention der HF-Leistung

TS EN 62132-2: 2011 Integrierte Schaltkreise - Messungen der elektromagnetischen Immunität - Teil 2: Messungen der bestrahlten Immunität - Verfahren für Tem-Zellen und Breitband-Tem-Zellen

TS EN 62258-5 Halbleiterformteile - Teil 5: Regeln für Informationen zur elektrischen Simulation

TS EN 62258-6 Halbleiterformteile - Teil 6: Richtlinien für Informationen zur thermischen Simulation

TS EN 62417 Semiconductor devices - Mobile Ionenexperimente für Metalloxidhalbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)

TS EN 62433-2 Emu ic-Modellierung - Teil 2: Integrierte Schaltungsmodelle für die Emu ic-Verhaltenssimulation - Modellierung von Übertragungen durch Übertragung (icce-Ce)

TS EN 165000-1 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 1: Allgemeine Merkmale - Zulassungsverfahren für Fähigkeiten

TS EN 165000-2 Integrierte Film- und Hybridschaltungen - Teil 2: Interne Sichtprüfung und spezielle Tests

TS DE 165000-3 Integrierte Film- und Hybridschaltungen - Teil 3: Checkliste und Bericht zur Selbstprüfung für Hersteller von integrierten Film- und Hybridschaltungen

TS EN 165000-4 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 4: Kundeninformationen, Produktbewertungspläne und leere Bauartspezifikation

TS EN 165000-5 Integrierte Folien- und Hybridschaltungen - Teil 5: Qualitätsgenehmigungsverfahren

TS EN 190000 Allgemeine Merkmale: Monolithische integrierte Schaltkreise

TS EN 190100 Teileigenschaften: Digitale monolithische integrierte Schaltkreise

Merkmale der 190101-Familie: Digitale integrierte TTL-Schaltkreise, 54, 64, 74, 84-Serie

Eigenschaften der 190102-Familie: TTL Schottky Digital Integrated Circuits, 54s, 64s, 74s, 84s-Serie

Merkmale der 190103-Familie: Digitale integrierte Schaltkreise mit geringem Stromverbrauch, 54ls, 64ls, 74ls, 84ls-Serie

Merkmale der 190106-Familie: Ttl Advanced Low-Power Schottky Digital Integrated Circuits, 54als und 74als-Serie

Merkmale der 190107-Produktfamilie: Schnelle digitale integrierte Schaltkreise der Serien 54f und 74f

Merkmale der 190108-Familie: Ttl Advanced Schottky Digital Integrated Circuits, 54as- und 74as-Serie

Merkmale der TS EN 190109-Familie: Integrierte digitale Hochleistungsschaltkreise, Hochleistungs / Hochleistungs / Hochleistungs-Serie

TS EN 190110 Leere Bauartspezifikation: Integrierte Schaltkreise mit digitalem Mikroprozessor

Merkmale der TS EN 190116-Familie: Weitere digitale integrierte Schaltkreise