• +90 212 702 00
  • +90 532 281 01
  • I info@muayene.co
trarbgzh-TWenfrkadefaru

Semiconductor Components (General) Standardy

top kontrola kvality testovací společnost Turecka, bylo poskytování inspekční a certifikační služby. Poskytuje zkušební a auditorské certifikační služby všem následujícím standardům. 

 

TS EN 60749-11 Polovodičová zařízení - Metody zkoušení mechanických a klimatizačních zařízení - Část 11: Rychlá změna teploty - metoda s dvojitou kapalnou lázní

TS EN 60749-12 Polovodičová zařízení - Mechanické a klimatizační zkoušky - Část 12: Vibrace, variabilní frekvence

TS EN 60749-13 Polovodičová zařízení - zkoušky a metody pro mechanické a vzduchotechnické zkoušky - Část 13: Slaná atmosféra

TS EN 60749-2 Polovodičová zařízení - Mechanické a klimatizační zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu

TS EN 60749-3 Polovodičová zařízení - Metoda klimatizace a mechanické zkoušky - Část 3: Externí vizuální kontrola

TS EN 60749-4 Polovodičová zařízení - Metody zkoušení mechanických a klimatizačních zařízení - Část 4: Mokrý teplotní ustálený stav, vysoce akcelerovaná zkouška deformace (hast)

TS EN 60749-6 Polovodičová zařízení - Metody zkoušení mechanických a klimatizačních zařízení - Část 6: Skladování při vysokých teplotách

TS EN 60749-9 Polovodičová zařízení - Metody zkoušení mechanických a klimatizačních zařízení - Část 9: Trvanlivost značení

TS EN 60749-1 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 1: Všeobecně

TS EN 60749-5 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 5: Zkouška trvanlivosti ve vlhkém stavu (Bias)

TS EN 60749-8 Polovodičové obvody - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Sekce 8: Těsnění

TS EN 60749-16 "polovodičové součástky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - část 16: Detekce rušivých vlivů částic (PIND)"

TS EN 60749-17 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Sekce 17: Neutronové záření

TS EN 60749-18 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Sekce 18: Ionizační záření (celková dávka)

TS EN 60749-19 Polovodičové obvody - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Sekce 19: Intenzita smykové smyky

TS EN 60749-22 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 22: Pevnost spoje

TS EN 60749-31 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 31: Hořlavost plastových zapouzdřených obvodů

TS EN 60749-32 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 31: Hořlavost plastových zapouzdřených obvodů

TS EN 60749-36 Polovodičové obvody - Metody mechanické a klimatické zkoušky - Část 36: Zrychlení, ustálený stav

TS EN 60749-14 Polovodičové obvody - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 14: Robustnost zakončovacích vodičů zakončení

TS EN 60749-23 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 23: Životnost při vysokých teplotách

TS EN 60749-24 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Sekce 24: Zrychlená odolnost proti vlhkosti, nezkreslený (špatný)

TS EN 60749-25 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 25: Teplotní cyklus

TS EN 60749-30 Polovodičové obvody - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Sekce 30: Předběžná úprava nehermetických povrchově montovaných obvodů před testem spolehlivosti

TS EN 62007-2 Polovodičová optoelektronická zařízení pro optické systémy - Část 2: Metody měření

TS EN 60749-20 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Sekce 20: Odolnost plastového zapouzdřeného smd vůči kombinovanému účinku tepla a pájecího tepla

TS EN 60749-19 / A1 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 19: Pevnost při třískovém řezu

TS EN 62418 Polovodičová zařízení - Zkouška napnutí kovových vlastností

TS EN 62374-1 Polovodičová zařízení - Část 1: Časově závislé dielektrické rozbití pro drátové dielektrické fólie (tddb)

TS EN 60749-30 / A1 Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 30: Předkondicionování neuzavřených povrchových součástí před zkouškou spolehlivosti

TS EN 62047-8 Polovodičové obvody - Mikromechanické přístroje - Část 8: Metoda zkoušení ohybu pásu pro měření vlastností tenkých vrstev

TS EN 60749-21 Polovodičové komponenty - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 21: Pájitelnost

TS EN 60749-29 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 29: Test uzamčení

TS EN 62047-5 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanická zařízení - Část 5: Přepínače RF MEMS

TS EN 62047-7 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanická zařízení - Část 7: Řízení rádiového kmitočtu a filtru mramoru pro výběr

TS EN 62047-9 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanická zařízení - Část 9: Měření pevnosti spoje mezi deskami a deskami pro Mems

TS EN 60749-40 Polovodičová zařízení - Metody zkoušení mechanických a klimatizačních zařízení - Část 40: Zkušební metoda pro pokles hranic destičky pomocí barvicího zařízení

TS EN 62047-10 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanická zařízení - Část 10: Měření vlastností prodloužení tenkých vrstev pro materiály Mems

TS EN 62047-12 Polovodičové obvody - Mikromechanické přístroje - Část 12: Metody zkoušení únavové únavy tenkovrstvých materiálů za použití rezonančních vibrací struktur Mems

TS EN 60749-34 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 34: Power cycling

tst ISO / IEC 10373-2 Identifikační karty - Zkušební metody - Část 2: Magnetické proužkové karty

TS EN 60749-27 / A1 Polovodičová zařízení - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 27: Test citlivosti elektrostatického výboje (esd) - Model stroje (mm)

TS EN 60191-6-22 Mechanická normalizace polovodičových prvků - Část 6-22: Obecná pravidla pro přípravu náčrtů balíčků polovodičových prvků s povrchovou montáží -Silicon Thin-Step Top Grid Array a Silicon Thin-Step Islet Grid Array pro Silicon Thin Step Islet Grid Semiconductor Pack manuál (S-FBGA a S-FLGA)

TS EN 60747-5-5 Jednotlivé polovodičové součástky a integrované obvody - Část 5-3: Optoelektronická zařízení - Fotočáry

TS EN 60191-3 Mechanická normalizace polovodičových prvků - část 3: Obecná pravidla pro přípravu náčrtů integrovaných obvodů

TS EN 60749-26 Polovodičové komponenty - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 26: Testy citlivosti elektrostatického výboje (ESD) - model lidského těla (HBM)

TS EN 60749-42 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 42: Testovací komory teploty a vlhkosti

TS EN 62779-2 Polovodičová zařízení - Polovodičová rozhraní pro komunikaci s lidským tělem - Část 2: Charakterizace výkonů rozhraní

TS EN 62779-1 Polovodičová zařízení - Polovodičová rozhraní pro komunikaci s lidským tělem - Část 1: Obecná pravidla

TS EN 62779-3 Polovodičová zařízení - Polovodičová rozhraní pro komunikaci s lidským tělem - Část 3: Funkční typ a provozní podmínky

TS EN 60749-44 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Zkušební metoda ozářeného ozářením jednorázovým efektem (SEE) pro polovodičová zařízení.

TS EN 60191-6-13 Mechanická normalizace polovodičových součástek - Část 6-13: Návrhový průvodce pro pravidelné rozložení sítě (FLGA) a mřížkové uspořádání jemných otvorů (FBGA / FLGA)

TS EN 60191-1 Mechanická normalizace polovodičových prvků - Část 1: Obecná pravidla pro přípravu náčrtů diskrétních prvků

TS EN 60191-6 Mechanická normalizace polovodičových součástek - Část 6: Obecná pravidla pro přípravu náčrtů povrchových polovodičových obvodových svazků

TS EN 60191-6-20: Mechanická normalizace polovodičových součástek - Část 2010-6: Obecná pravidla pro přípravu náčrtků balíčků pro polovodičová zařízení s povrchovou montáží - Metody měření rozměrů balíků j-pinů s malým tahem (ktj)

TS EN 60191-6-17: 2011 Mechanická normalizace polovodičových součástek - Část 6-17: Obecná pravidla pro přípravu výkresů výkresů balíčků pro návrh polovodičových konstrukcí pro povrchovou montáž pro stohované obaly - Návrhový průvodce pro pravidelné rozestupy a rozvržení pravidelných roztečových rastrů ppfbga a p-Pflga)

TS EN 60191-6-16 Mechanická normalizace polovodičových prvků - Část 6-16: Slovníček praktických zásuvek a polovodičových zkoušek bga, lga, fbga a flga

TS EN 60191-6-18 Mechanická normalizace polovodičových součástek - Část 6-18: Obecná pravidla pro přípravu náčrtů povrchové montáže balíčků polovodičových zařízení - Návrhový průvodce pro kruhové maticové pole

TS EN 60749-4 Polovodičová zařízení - zkušební metody mechanických a klimatizačních zařízení - Část 4: Mokrá teplota, ustálený stav, vysoce akcelerační zkouška (yhzd)

TS EN 60749-6 Polovodičová zařízení - zkušební metody mechanických a klimatizačních zařízení - Část 6: Skladování při vysokých teplotách

TS EN 60749-1 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 1: Všeobecně

TS EN 60749-5 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - část 5: Zkouška stálosti, teploty a vlhkosti polarizovaná životnost

TS EN 60749-8 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 8: Těsnění

TS EN 60749-16 Polovodičové komponenty - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 16: Stanovení rázového hluku částic (PCGT)

TS EN 60749-17 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 17: Neutronové ozařování

TS EN 60749-18 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 18: Ionizační záření (celková dávka)

TS EN 60749-19 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - část 19: Mez pevnosti třísek

TS EN 60749-20 Polovodičové komponenty - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 20: Odolnost plastových zapouzdřených povrchově montovaných prvků vůči působení vlhkosti a teploty pájení společně

TS EN 60749-22 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 22: Upevňovací síla

TS EN 60749-31 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 31: Hořlavost plastových těles (vnitřní)

TS EN 60749-14 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 14: Tuhost svorek (integrita nohy)

TS EN 60749-32 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - část 32: Hořlavost plastových prvků skříně (vyskytující se venku)

TS EN 60749-36 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 36: Zrychlení, ustálený stav

TS EN 60749-23 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 23: Životnost při vysokých teplotách

TS EN 60749-24 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 24: Zrychlená odolnost proti vlhkosti - Nelarizovaná, akcelerovaná zátěžová zkouška (ahzd)

TS EN 60749-25 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - část 25: Teplotní cyklus

TS EN 60749-30 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 30: Předkondicionování nepropustných povrchově montovaných komponentů před zkouškou spolehlivosti

TS EN 60749-2 Polovodičová zařízení - zkušební metody mechanických a klimatizačních zařízení - Část 2: Nízký tlak vzduchu

TS EN 60749-20-1 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 20-1: Manuální přeprava, balení, označování a přeprava povrchových prvků citlivých na kombinovaný účinek vlhkosti a teploty pájení

TS EN 60749-27 Polovodičová zařízení - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 27: Test citlivosti elektrostatického výboje (esd) - Model stroje (mm)

TS EN 60749-3 Polovodičová zařízení - zkušební metody mechanických a klimatizačních zařízení - Část 3: Externí externí kontrola

TS EN 60749-33 Polovodičové obvody - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 33: Zrychlená odolnost proti vlhkosti - samostatný autokláv

TS EN 60749-35 Polovodičová zařízení - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické komponenty s plastovými uzávěry

TS EN 60749-37 Polovodičové prvky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 37: Zkušební metoda pro spouštění na zem pomocí akcelerátoru

TS EN 60749-38 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 38: Metoda malých poruchových testů pro paměťové polovodičové prvky

TS EN 60749-32 / A1 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 32: Hořlavost plastových prvků skříně (vnější)

TS EN 60749-19 / A1 Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 19: Pevnost při třískovém řezu

TS EN 60749-32 / A1: 2010 Polovodičové prvky - Metody mechanických a klimatických zkoušek - Část 32: Hořlavost plastových prvků skříně (vyskytující se venku)

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 60749: Předkondicionování neuzavřených povrchových součástí před zkouškou spolehlivosti TS EN 30-2005: 1 / A2011: 30

Polovodičové komponenty - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 60749: Životnost při vysoké teplotě TS EN 23-2004: 1 / A2011: 23

TS EN 62047-2 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanická zařízení - Část 2: Metoda zkoušení prodloužení tenkovrstvých materiálů

TS EN 62047-4: 2010 Polovodičové obvody - Mikromechanické přístroje - Část 4: Obecná specifikace pro Mems

TS EN 62047-3 Polovodičové obvody - Mikromechanické přístroje - Část 3: Tenkovrstvá standardní zkušební součást pro zkoušku prodloužení

TS EN 62047-6 Polovodičové obvody - Mikroelektromechanické přístroje - Část 6: Metody pro koaxiální únavové zkoušky tenkovrstvých materiálů

62374-1: 2010 / AC: 2011 Semiconductor devices - Část 1: Časově závislé dielektrické rozbití pro dielektrické fólie (tddb)

TS EN 62415: 2010 Semiconductor devices - Test elektromigrace s konstantním proudem