Piezoelektrické a dielektrické komponentyn všechny postupy uvedené ve standardu použitím všech nezbytných metod pro provádění certifikačního procesu testováním.
TS EN 168101 Bližší specifikace: Krystalové jednotky (přijetí kvalifikace)
TS EN 168201 Bližší specifikace: Krystalové jednotky (schválení kvality)
TS EN 169201 Bližší specifikace: Krystalově řízené oscilátory (schválení kvality)
TS EN 60444-1 Měření parametrů křemenných krystalů v síti technikou nulové fáze - Část 1
TS EN 60368-2-2 Piezoelektrická síta - Část 2: Návod k obsluze piezoelektrických sít - Část 2: Piezoelektrická keramická síta (IEC60368-2-2: 1999)
TS EN 170100 Součástní standard - dielektrické rezonátory vlnovodového typu
TS EN 170101 Cavity - Dielektrické rezonátory s vlnovody - Schválení způsobilosti
TS EN 60368-4-1 Piezoelektrické filtry s hodnocením kvality - Část 4-1: Prázdná specifikace - schválení způsobilosti
TS EN 60679-5 Krystalově řízené oscilátory - kvalita řízení vyrobená-Část 5: Schválení kvality součásti
TS EN 60679-5-1 Krystalově řízené oscilátory - kvalita řízení vyrobena-Část 5: Prázdný detail - schválení kvality
TS EN 60368-4 Kvalitní piezoelektrické filtry sekce 4: Funkce sekce - Schválení způsobilosti
TS EN 60368-4-1 Piezoelektrické filtry s hodnocením kvality - Část 4-1: Prázdná specifikace - schválení způsobilosti
TS EN 60444-7 Měření parametrů křemenných krystalů - Část 7: Měření provozu křemíkových krystalů a snižování frekvencí
TS EN 60444-8 Měření parametrů křemenné krystalové jednotky - Část 8: Zkušební úchyt pro krystalové jednotky s povrchovou montáží
TS EN 60122-1 Kvalitní křemíkové krystalové jednotky - část 1: Norma pro všeobecné specifikace
TS EN 60444-1 / A1 Měření parametrů křemenných krystalů v síti s technikou nulové fáze - Část 1
TS EN 168201 Krystalové jednotky (schválení kvality) - Specifikace prázdných detailů
TS EN 60444-1 / A1 Měření parametrů křemíkových krystalů v okruhu pi s technikou nulových fází 1: Základní metoda měření rezonanční rezistence a rezonanční frekvence křemíkových krystalových jednotek v pi obvodu s technikou nulové fáze
TS EN 60444-9 Měření parametrů křemenných krystalů - Část 9: Měření falešných rezonancí piezoelektrických krystalických jednotek
TS EN 60684-2 Pružné izolační pouzdro - Část 2: Zkušební metody
TS EN 62604-2 Povrchové akustické vlny (SAW) a skládané akustické vlny (BAW) páry
TS EN 60122-3 Kvalitní křemenné krystalové jednotky - část 3: Standardní hlavní rozměry a připojení nohou
TS EN 60368-3 Piezoelektrické filtry s hodnocením kvality - Část 3: Standardní hlavní rozměry a připojení nohou
TS EN 61837-1 Elektrická zařízení s povrchovou úpravou pro regulaci a výběr kmitočtu - Standardní průměry a přípojky čelní části - Část 1: Plastová litina
TS EN 62575-2 Radiofrekvenční (RF) filtry akustických vln (BAW) hodnocení kvality - Část 2: Uživatelská příručka
TS EN 60679-3 Oscilátory řízené tekutými krystaly - zaručená kvalita - Část 3: Standardní obrysy a připojení nohou
TS EN 60444-6 Měření parametrů křemenného krystalu - Část 6: Měření závislosti úrovně pohonu (ssb)
TS EN 61837-2 / A1 Zapuštěné piezoelektrické prvky pro řízení a výběr kmitočtu - Standardní obrysy a svorkovnice - Část 2: Keramická pouzdra
TS EN 62761 Základní principy měření nelinearity povrchových akustických vln (SAW) a volumetrických prvků akustických vln (BAW).
TS EN 62575-1 Kvalitní vysokofrekvenční (RF) kolektivní filtry akustických vln (BAW) - Část 1: Obecná norma
TS EN 62604-1 Kvalitní povrchová akustická vlna (SAW) a kolektivní akustická vlna (BAW) duplex - Část 1: Obecná norma
TS EN 60862-1 Kvalifikované povrchové akustické vlnové filtry: Část 1: Norma pro všeobecné specifikace
TS EN 61837-3 Pizoelektronická zařízení pro povrchovou montáž pro řízení a výběr kmitočtů - Standardní rámy a koncové měděné spoje - Část 3: Kovové povlaky
TS EN 60758 Syntetický křemenný krystal - Specifikace a návod k použití
TS EN 62276 Desky z krystalů pro aplikace povrchových akustických vln - Specifikace a metody měření
TS EN 61240 Piezoelektrické prvky - Příprava náčrtů povrchových prvků (SMD) pro řízení a výběr kmitočtů - Obecná pravidla
TS EN 50324-1 Piezoelektrické vlastnosti keramických materiálů a součástí - Část 1: Termíny a definice
TS EN 50324-2 Piezoelektrické vlastnosti keramických materiálů a součástí - Část 2: Metody měření nízký výkon
TS EN 50324-3 Piezoelektrické vlastnosti keramických materiálů a součástí - Část 3: Metody měření - Vysoký výkon
TS EN 61967-5 Integrované obvody - 150 khz - Měření elektromagnetických emisí 1 ghz - Část 5: Měření kontaktních přenosů - Metoda lavičky Faraday cage
TS EN 61967-6 Integrované obvody - 150 khz - Měření elektromagnetických emisí 1 ghz - Část 6: Měření kontaktních přenosů - Metoda magnetické sondy
TS EN 61967-4 / A1 Integrované obvody-150 kHz až 1 ghz měření elektromagnetické emise-část 4: Měření přenášených emisí-1 / 150 přímá metoda spojování
TS EN 61967-6 / A1 Integrované obvody - 150 khz - Měření elektromagnetických emisí 1 ghz - Část 6: Měření kontaktních přenosů - Metoda magnetické sondy
TS EN 62090 Štítky balení výrobků pro elektronické komponenty s použitím čárových kódů a dvourozměrných symbolů
TS EN 62132-5 Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti pro frekvenční rozsah 150 khz až 1 gHz - Část 5: Metoda Faradayovy klece pro zkušební tabulku
TS EN 62132-3 Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti pro frekvenční rozsah 150 khz až 1 gHz - Část 3: Metoda vstřikování hmoty
TS EN 62132-4 Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti pro frekvenční rozsah 150 khz až 1 gHz - Část 4: Přímá metoda interního výkonu
TS EN 62132-2: 2011 Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 2: Měření ozářené imunity - Tem cell a broadband tem cell method
TS EN 62258-5 Produkty pro výrobu polovodičů - Část 5: Pravidla pro informace o elektrické simulaci
TS EN 62258-6 Polovodičové výlisky - Část 6: Pokyny pro informace o tepelné simulaci
TS EN 62417 Semiconductor devices - Mobilní iontové experimenty pro polovodičové tranzistory s polovodičovým efektem oxidů kovů (mosfet)
TS EN 62433-2 Emuční modelování - Část 2: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování emigrantů - Modelování přenosů prostřednictvím přenosu (icce-Ce)
TS EN 165000-1 Filmové a hybridní integrované obvody - Část 1: Obecné vlastnosti - proces schvalování schopností
TS EN 165000-2 Filmové a hybridní integrované obvody - část 2: Interní vizuální kontrola a speciální zkoušky
TS EN 165000-3 Filmové a hybridní integrované obvody - Část 3: Kontrolní seznam a zpráva pro výrobce filmů a hybridních integrovaných obvodů
TS EN 165000-4 Filmové a hybridní integrované obvody - Část 4: Informace o zákaznících, plány pro hodnocení úrovně výrobku a specifikace detailů
TS EN 165000-5 Filmové a hybridní integrované obvody - Část 5: Proces schvalování kvality
TS EN 190000 Obecné vlastnosti: Monolitické integrované obvody
TS EN 190100 Součásti: Digitální monolitické integrované obvody
TS EN 190101 Rodinné vlastnosti: Digitální integrované ttl obvody, 54, 64, 74, řada 84
TS EN 190102 Rodinné funkce: Digitální integrované obvody Ttl schottky, 54s, 64s, 74s, řada 84s
TS EN 190103 Rodinné vlastnosti: Digitální integrované ttl nízkoenergetické schottky obvody, 54ls, 64ls, 74ls, řada 84ls
TS EN 190106 Rodinné funkce: Ttl pokročilé nízkoenergetické digitální integrované obvody Schottky, řada 54als a řada 74als
TS EN 190107 Rodinné vlastnosti: Ttl rychlé digitální integrované obvody, řada 54f a 74f
TS EN 190108 Rodinné funkce: Ttl pokročilé digitální integrované obvody Schottky, řada 54as a řada 74as
TS EN 190109 Rodinné vlastnosti: Digitální integrované obvody hc mos, série hc / hct / hcu
TS EN 190110 Prázdná podrobná specifikace: Digitální mikroprocesorové integrované obvody
TS EN 190116 Rodinné funkce: Digitální integrované obvody Ac mos